Sun Microsystems ha unido su centro de pruebas RFID con su centro avanzado de productos (SunAdvanced Product Testing-APT), un laboratorio de pruebas ambientales para la creciente demanda para realizar pruebas de soluciones de sensores y RFID multi-fabricante en condiciones extremas o condiciones ambientales del mundo real.
Sun está reorganizando el centro de pruebas RFID en su laboratorio Sun APT, con sede en Colorado, para incorporar la capacidad de realizar pruebas de soluciones de sensores y RFID bajo condiciones ambientales adversas, tales como exceso de calor y frío, vibraciones, humedad, descargas eléctricas, altitud y presión. La nueva instalación se llama Sun Advanced Product Testing Lab for RFID and Sensors (Laboratorio Avanzado de Prueba de Productos para Sensores y RFID)
Combinando nuestro centro de pruebas RFID con nuestro laboratorio de pruebas ambientales APT permitimos a nuestros clientes dar un paso más para realizar pruebas de resistencia industrial en condiciones del mundo real, con el objeto de verificar si las soluciones RFID pueden aguantar las extremas condiciones ambientales que se encuentran en sectores como el militar, marítimo, aeroespacial, sanitario u otros, comenta Jim del Rossi, director del Centro RFID de Sun Microsystems.
